11月22日下午在五楼报告厅理学院举行了半导体量检测技术领域的学术交流报告。学院特邀上海优睿谱半导体设备有限公司总经理唐德明博士为我院师生做题为“第三代半导体量测检测设备的机遇和挑战”的报告。报告会由应用物理系主任李钰主持，理学院院长丁义明、副院长王玉华和师生们一起参加了学术报告会。

报告会上唐博士深入分析了当前第三代半导体技术的发展现状，以及在量测检测设备领域所面临的技术难题、解决方案和市场机遇。上海优睿谱半导体设备有限公司的董事长余先育先生也出席了报告会，并为师生们分享了他宝贵的创业经验。余董事长的演讲不仅提供了行业视野，也为年轻学子们提供了职业发展指导。

在报告结束后的研讨环节中，与会师生踊跃提问，问题涉及了碳化硅晶体的切割方式、晶圆内部缺陷的种类及其对产品质量的影响，以及高功率密度器件的散热材料选择等多个方面。唐德明博士和余先育董事长对这些问题进行了详细的解答，提供了丰富的信息和深入见解。

本次研讨会不仅促进了学校与企业之间的交流合作，也为武科大理学院的师生们提供了一个了解行业前沿技术的机会。学院表示，将继续举办此类活动，以促进学术交流和技术创新。

唐德明，美国衣阿华州立大学物理化学博士，江苏省双创人才，姑苏创新创业领军人才，上海交通大学微电子学院客座教授，中国科学院西安光机所客座研究员。曾担任美国BOC集团（美国）技术研发中心高级工程师，美国英特尔公司首席工程师等，在国内曾担任中芯国际集成电路制造有限公司资深经理、应用材料中国(西安)-全球太阳能研发实验室任运营总监。现为南京文治资本投资管理有限公司创始人以及执行合伙人，上海优睿谱半导体设备有限公司总经理。

余先育，我校金属材料工程专业2002届校友，2006年4月获上海交通大学微电子学与固体电子学硕士学位，2006年至2009年担任美国应用材料（以色列PDC总部)全球技术支持工程师，2010至2021年担任睿励科学仪器（上海）有限公司市场总监，2021年9月创立上海优睿谱半导体设备有限公司，并担任董事长。